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KTH可编程光子芯片测量耗散系统拓扑性质
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AI 综述
2026年10月19日，据Phys.org报道，KTH皇家理工学院研究团队展示了一种可编程光子芯片，可用于模拟耗散系统并检测、测量其拓扑性质。研究利用数学方法模拟损耗而不实际损失信号，再将光与参考光束比较，以区分拓扑情形与普通情形，并探测到例外点。同一芯片可通过重新编程测试不同情形。相关成果发表于《Physical Review Letters》。
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最新进展10月19日 02:00
KTH团队展示可编程光子芯片，可模拟耗散系统并测量其拓扑性质，成果发表于《Physical Review Letters》。报道时间线
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10月19日
- Phys.org 光学与光子学精选可编程光子芯片提供探测光学器件拓扑性质的新方法
KTH皇家理工学院研究团队展示了一种可编程光子芯片，能够模拟耗散系统并检测、测量其拓扑性质。研究利用数学方法模拟损耗而不实际损失信号，再将光与参考光束比较，区分拓扑情形与普通情形，并探测到例外点。相关成果发表于《Physical Review Letters》，同一芯片可通过重新编程测试不同情形。
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