可编程光子芯片提供探测光学器件拓扑性质的新方法
A new way to detect stabilizing properties of optical devices
KTH皇家理工学院研究团队展示了一种可编程光子芯片,能够模拟耗散系统并检测、测量其拓扑性质。研究利用数学方法模拟损耗而不实际损失信号,再将光与参考光束比较,区分拓扑情形与普通情形,并探测到例外点。相关成果发表于《Physical Review Letters》,同一芯片可通过重新编程测试不同情形。
研究通过参考光干涉读出耗散系统中的拓扑信息,并在同一可编程芯片上测试不同情形,为研究损耗条件下的稳定性质提供方法。
在光纤、芯片及其他导光器件中,微小缺陷会使光子散射并扰乱其传播路径。一项新研究展示了一种方法,可揭示某些系统中帮助光波行为抵御此类缺陷的特性。该方法有望加快新型电子与光学技术的探索,并有助于打造更可靠的量子器件。
研究人员在Physical Review Letters发表报告,瑞典皇家理工学院(KTH Royal Institute of Technology)的研究人员展示了一款可编程芯片,能够检测并测量“拓扑性质”,即波行为中即使系统发生改变也保持不变的特征。
KTH 副教授 Ali Elshaari 表示,理解这些性质有助于器件在存在缺陷的情况下仍能继续工作。
Elshaari 说,拓扑性质可使材料具有异常的稳定性。“当我向学生讲解拓扑时,我会从绳子上的一个结开始,”他说,“你可以拉伸它、扭转它或摇晃它,但只要不剪断绳子,这个结就一直存在。”
“物理学家发现,一些材料和器件在波的传播方式中也带有类似的结。”
KTH博士生Andrea Cataldo是该研究的第一作者,他表示,这种稳定性对于必须在噪声和缺陷条件下工作的技术具有吸引力,例如未来的电子器件和量子器件。
"在现实世界中,每个系统都会损失一些能量,"Cataldo说。"因此我们需要在现实条件下研究这些性质的方法。"
他说,这种基于光的芯片可以模拟能量损失系统,并直接揭示其隐藏的稳定性质。
Cataldo说,该芯片能够可靠地区分"打结"(拓扑)情况与普通情况。它还检测到一个特殊点,在该点能量损失系统会以异常方式表现,称为例外点。
"我们使用一种数学技巧,在芯片上运行有损系统而不实际损失信号,"他说。然后研究人员将光与参考光束进行比较——他们将这种方法比作将乐器与参考音调对音。
"这使我们能够读取隐藏信息,即使能量损失通常会将其隐藏,"他说。
由于芯片可以重新编程,因此可以在一台设备上测试许多不同的场景。
出版详情
Andrea Cataldo 等。可编程耗散光子电路中动量空间拓扑的干涉读出,Physical Review Letters(2026)。DOI: 10.1103/xkht-64kc 在 arXiv DOI: 10.48550/arxiv.2609.38352
这篇报道的作者是谁?
萨迪·哈莉
生命科学与生态学学士。具有微生物学实验室背景,并拥有石油、天然气和可再生能源行业的制药新闻经验。 完整简介 →
罗伯特·伊根
数学生物学学士,创意写作硕士。游历广泛,对科学和语言有独到见解。 完整简介 →
引用: A new way to detect stabilizing properties of optical devices (2026, October 18) retrieved 18 October 2026 from https://phys.org/news/2026-10-stabilizing-properties-optical-devices.html
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来源:Phys.org 光学与光子学 · phys.org